WTDIC-TENSILE三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)系統(tǒng)介紹

近年來，作為復(fù)雜的過程鏈中的一環(huán)，光學(xué)測量系統(tǒng)已逐漸成為工業(yè)生產(chǎn)過程中的重要工具。WTDIC-TENSILE全場應(yīng)變測量系統(tǒng)采用非接觸測量方式，具有多種工作模式，滿足各種測試速率、分辨率和測量范圍的要求，且不受材料影響，適用于各種材料的靜態(tài)或動態(tài)實驗。

全場測量

測量不局限于單點，可全范圍觀測變形

更加便捷識別臨界破壞點

無需再次試驗，即可從之前獲取的圖像提取關(guān)注熱點

對于大尺寸或圓周物體可采用多系統(tǒng)陳列

非接觸測量

不需要應(yīng)變片、刷漆或使用柵格

不需要為獲得有效結(jié)果而進(jìn)行精確定位

試件振動也可以測量

數(shù)分鐘即可準(zhǔn)備并測量試件

簡單易用

安全單一白光照射，不需要激光或其他特殊照明

無需光學(xué)隔離即可實現(xiàn)準(zhǔn)確測量

試驗中間可隨時校準(zhǔn)系統(tǒng)

自動數(shù)據(jù)處理節(jié)約時間

WTDIC-TENSILE三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)點

-  系統(tǒng)技術(shù)水平*：自主知識產(chǎn)權(quán)的核心算法，技術(shù)指標(biāo)達(dá)到*水平

-  系統(tǒng)應(yīng)用范圍廣：可用于機械、材料、力學(xué)、建筑、土木等多個學(xué)科的科學(xué)研究與工程測量中，適用于大部分材料

-  系統(tǒng)配置靈活：支持幾毫米到幾米的測量幅面；支持百萬至千萬像素相機

-  系統(tǒng)兼容性強：同時兼容單相機二維測量和多相機三維測量

-  輔助功能強大：具備圓形標(biāo)志點動態(tài)變形測量功能；具備剛體物體運動軌跡姿態(tài)測量功能

-  擴展接口豐富：具備萬能試驗機接口、杯突實驗機接口等多種類型接口。

技術(shù)參數(shù)

WTDIC-TENSILE應(yīng)用

材料研究和零件測量

材料研究

WTDIC-TENSILE全場應(yīng)變測量系統(tǒng)能夠在各種各樣的測試環(huán)境下，分析材料的力學(xué)性能和行為表現(xiàn)，并且可以很好地集成到現(xiàn)有的測量環(huán)境、試驗臺和試驗機，利用非接觸測量頭，可以在機械加載和熱加載的情況下，測量軟質(zhì)和硬質(zhì)材料的全場三維應(yīng)變和變形。它可以替代傳統(tǒng)的引伸計和應(yīng)變片，實現(xiàn)實時的三維表面變形分析。

目前，WTDIC-TENSILE已被廣泛應(yīng)用于材料力學(xué)性能測量，是在業(yè)界得到廣泛認(rèn)可和好評的測量解決方案。

全場應(yīng)變分布

應(yīng)力-應(yīng)變曲線

楊氏模量

泊松比

N值&R值

拉伸試驗

剪切試驗

三點彎曲/四點彎曲

疲勞試驗……

零件測試和分析

WTDIC-TENSILE是分析零件力學(xué)性能的優(yōu)選工具，它不受零件和材料的幾何形貌限制，即使零件在工作狀態(tài)，光學(xué)測量也不受影響。

WTDIC-TENSILE通過評估扭曲、彎曲、位移、速度和加速度等因素，實現(xiàn)分析零件在使用過程中的安全風(fēng)險、零件壽命、蠕變、老化及外觀變化等，以便給設(shè)計者提供優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計的試驗驗證和有效反饋。

在靜態(tài)和動態(tài)測試中，又或者是在高速測試狀態(tài)下，WTDIC-TENSILE都能通過光學(xué)測量獲得完整的測試結(jié)果，并可以做出完整的數(shù)據(jù)分析報告：

強度分析

振動分析

耐久度分析

碰撞試驗

有限元分析和仿真模擬驗證

在新產(chǎn)品設(shè)計和制造過程中，制造商越來越多地應(yīng)用有限元分析軟件來進(jìn)行模擬分析，優(yōu)化和改進(jìn)產(chǎn)品性能和制造工藝。WTDIC-TENSILE可將實際測試結(jié)果與有限元仿真軟件的理論數(shù)據(jù)進(jìn)行對比和分析，有效改善模擬仿真工具及其工藝，為項目積累更多數(shù)據(jù)，有助于加快產(chǎn)品的上市步伐。

比較模擬數(shù)據(jù)和真實測量結(jié)果（應(yīng)變、位移等）

測定材料特性后，作為現(xiàn)實模擬參數(shù)輸入軟件

包含CAD轉(zhuǎn)換的網(wǎng)格優(yōu)化功能，用于有限元分析

數(shù)字化模擬驗證